【可控硅怎么测量好坏】可控硅（SCR）是一种常用的半导体器件，广泛应用于电力控制、调压、调速等电路中。在实际使用过程中，由于长期工作或外部因素影响，可控硅可能会出现损坏或性能下降的情况。因此，掌握如何判断可控硅的好坏是非常重要的。
以下是通过简单的方法和工具来判断可控硅是否正常工作的总结性说明，并附上详细对比表格供参考。
一、可控硅的基本结构与功能
可控硅由三个PN结组成，分别是阳极（A）、阴极（K）和门极（G）。其主要特点是：在正向电压下，只有当门极接收到触发信号时，可控硅才会导通；一旦导通后，即使门极信号消失，它仍会保持导通状态，直到电流降到维持电流以下。
二、测量可控硅好坏的步骤
1. 准备工作
- 使用万用表（指针式或数字式均可），选择电阻档（通常为R×1kΩ或R×100Ω）。
- 确保可控硅未接入电路，避免误测。
2. 测量A-K之间的电阻
- 将红表笔接阳极（A），黑表笔接阴极（K）。
- 正常情况下，应显示一个较高的阻值（如几千欧以上）。
- 若阻值为零或非常小，则说明可控硅可能已击穿。
3. 测量G-A之间的电阻
- 红表笔接门极（G），黑表笔接阳极（A）。
- 正常情况下，应有较小的阻值（约几百欧到几千欧）。
- 若阻值为无穷大，说明门极与阳极之间断路。
4. 测量G-K之间的电阻
- 红表笔接门极（G），黑表笔接阴极（K）。
- 正常情况下，阻值应为较大（如几千欧以上）。
- 若阻值过小或为零，说明门极与阴极之间短路。
5. 测试导通特性
- 在A-K间加正向电压（可使用电池或电源）。
- 用导线短接G和K，观察是否导通。
- 若导通良好，且断开后仍能保持导通状态，说明可控硅正常。
6. 使用专用仪器（如晶体管测试仪）
- 对于更精确的测试，可以使用晶体管测试仪进行参数检测，如触发电压、导通电压等。
三、可控硅好坏判断对照表
| 测量项目 | 正常情况 | 异常情况 | 判断结果 |
| A-K间电阻 | 高阻值（几千欧以上） | 阻值为0或非常低（短路） | 可控硅损坏 |
| G-A间电阻 | 中等阻值（几百至几千欧） | 阻值为∞（断路） | 门极断路 |
| G-K间电阻 | 高阻值（几千欧以上） | 阻值为0或非常低（短路） | 门极与阴极短路 |
| 导通测试 | 接触G-K后导通，断开后保持导通 | 不导通或无法保持导通 | 可控硅失效 |
四、注意事项
- 测量时确保可控硅未带电，防止损坏仪表或造成危险。
- 若不确定测量方法，建议查阅具体型号的可控硅手册。
- 对于高功率可控硅，建议使用专业设备进行测试。
通过上述方法，可以较为准确地判断可控硅是否完好。在实际应用中，若发现可控硅性能异常，应及时更换，以保证电路的安全运行。